NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件 輻射測量儀

NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件

一、NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件產(chǎn)品簡介

       NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件刻度方法主要有兩種，一是相對測量方法，二是無源效率刻度方法。在退役核設(shè)施放射性測量、放射性工作場所測量、核事故應(yīng)急中污染物放射性快速測量、人體器官放射性測量、生物樣品放射性快速測量、放射性廢物非破壞性測量等領(lǐng)域，很難采用借助標(biāo)準(zhǔn)源的相對測量方法獲得效率刻度因子。

       無源效率刻度軟件NaI-Calibration是用于NaI γ射線探測器無源效率刻度的新產(chǎn)品，它采用數(shù)值方法計(jì)算γ光子的輸運(yùn)過程，在此基礎(chǔ)上得到效率刻度因子，幾何和材料建模能力強(qiáng)大，計(jì)算精度高，速度快，界面簡單，使用方便。由于是采用理論計(jì)算方法，因此，對于復(fù)雜幾何形狀和成分的放射源都快速地獲得效率刻度曲線。NaI-Calibration克服了相對測量方法的缺點(diǎn)，同時避免了標(biāo)準(zhǔn)源的使用和管理，較大地拓展了NaI探測器的適用范圍，提高了NaI探測器的定量分析能力。

       NaI-Calibration是在解決兩個關(guān)鍵技術(shù)的基礎(chǔ)上研制成功的NaI無源效率刻度軟件，一是光子在探測器中的能量沉積計(jì)算，二是探測器中產(chǎn)光效率和光收集效率的表征方法。光子在探測器中的能量沉積部分具備一般的無源效率刻度軟件的優(yōu)點(diǎn)，即可視化建模功能，對于任意組分材料和任意屏蔽物，精密化計(jì)算能量沉積功能；探測器表征方面通過實(shí)驗(yàn)測量得到點(diǎn)源在不同位置的能量沉積，然后反演出探測器的產(chǎn)光效率和收集效率隨能量變化曲線。NaI-Calibration經(jīng)過了不同形狀、不同活度的體源效率測量的考核。

二、NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件性能

· 采用功能強(qiáng)大的CSG建模，實(shí)現(xiàn)對任意形狀的體源的三維可視化快速建模；

·     放射源到探測器的距離為0到無窮遠(yuǎn)；

· 刻度的能量范圍45keV到7MeV；

· 積分控制精度人為調(diào)節(jié)，軟件默認(rèn)值為3%；

· 效率刻度曲線計(jì)算時間：對于形狀對稱的體源（如環(huán)境樣品源），計(jì)算時間小于20秒；

· 對于形狀非對稱的體源，計(jì)算時間一般少于10分鐘；

· 軟件輸出為*.TXT格式文件；

· 中、英文界面。

三、本公司的服務(wù)

定制軟件界面；

 定制報(bào)告格式；

免費(fèi)培訓(xùn)和技術(shù)咨詢。